发明名称 一种自动坏点检测方法与设备
摘要 本发明提供了一种坏点检测方法和设备。所述方法包括:判断象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定是否是坏点。本发明通过细节区域和均匀区域的区分,以有效防止对原本图像细节的模糊;对均匀区域严格作坏点判断时空间连通性的判断条件,以提高对坏点检测的灵敏度和“伤点”的检测率;自动坏点表的运用,大大增加真实坏点的检测率。
申请公布号 CN101282419A 申请公布日期 2008.10.08
申请号 CN200810105491.0 申请日期 2008.04.29
申请人 北京中星微电子有限公司 发明人 梅大为;邱嵩;王浩
分类号 H04N5/217(2006.01);H04N17/00(2006.01) 主分类号 H04N5/217(2006.01)
代理机构 北京亿腾知识产权代理事务所 代理人 陈霁
主权项 1.一种坏点检测方法,包括:区分象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定所述象素点是否是坏点。
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