发明名称 |
一种自动坏点检测方法与设备 |
摘要 |
本发明提供了一种坏点检测方法和设备。所述方法包括:判断象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定是否是坏点。本发明通过细节区域和均匀区域的区分,以有效防止对原本图像细节的模糊;对均匀区域严格作坏点判断时空间连通性的判断条件,以提高对坏点检测的灵敏度和“伤点”的检测率;自动坏点表的运用,大大增加真实坏点的检测率。 |
申请公布号 |
CN101282419A |
申请公布日期 |
2008.10.08 |
申请号 |
CN200810105491.0 |
申请日期 |
2008.04.29 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
梅大为;邱嵩;王浩 |
分类号 |
H04N5/217(2006.01);H04N17/00(2006.01) |
主分类号 |
H04N5/217(2006.01) |
代理机构 |
北京亿腾知识产权代理事务所 |
代理人 |
陈霁 |
主权项 |
1.一种坏点检测方法,包括:区分象素点所在区域是细节区域或均匀区域;对均匀区域中的象素点,判断是否空间连通以及是否已在自动坏点表中;对判断为空间连通并且已在自动坏点表中的象素点,进行场景运动判断;以及根据场景运动判断的结果,确定所述象素点是否是坏点。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层 |