一种PHS手机中的晶体校准方法

摘要

本发明公开了一种PHS手机中的晶体校准方法，它首先使用粗调电压调整，对应的微调电压取范围的上限值，找到使手机晶振工作在要求的上限的粗调电压值；然后将微调电压调整到下限值，找到使手机晶振工作在要求的下限的粗调电压值；当第二次的粗调电压值低于第一次的粗调电压值时，将两个电压值取平均就能够得到使微调电压比较对称的平均电压值，然后，在平均电压值处调整微调电压使手机晶体工作在0ppm，得到的整个晶体的控制范围上下对称，而且整个可控范围大于手机的最低要求。本发明方法既能最大限度的利用晶体的可控范围，又能够得到比较好的线性结果，在实际使用中快速的调整，使PHS手机能够进行正常的工作，并较大地降低了生产成本。

主权项

1、一种PHS手机中的晶体校准方法，其特征在于首先使用粗调电压调整，对应的微调电压取范围的上限值，找到使手机晶振工作在要求的上限的粗调电压值；然后将微调电压调整到下限值，找到使手机晶振工作在要求的下限的粗调电压值；当第二次的粗调电压值低于第一次的粗调电压值时，将两个电压值取平均就能够得到使微调电压比较对称的平均电压值，然后，在平均电压值处调整微调电压使手机晶体工作在0ppm，得到的整个晶体的控制范围上下对称，而且整个可控范围大于手机的最低要求。