发明名称 一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法
摘要 本发明公开了一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,是通过对同一个传感器施加以不同的激励模式,涡流检测时向传感器施加正弦波激励,漏磁检测时向传感器施加方波激励,磁记忆检测时向传感器施加高占空比的脉冲激励,并针对不同激励模式所获取的传感信号进行不同的分析处理,从而获得不同的检测参量,实现了既可以根据不同的被测构件需要分别实现单一的涡流检测或漏磁检测或磁记忆检测,也可以针对同一被测构件的需要采用分时检测的方式来取得涡流检测、漏磁检测、磁记忆检测的检测参量的目的,从而给人们的使用带来了极大的方便,并可极大地降低检测仪器的制作成本。
申请公布号 CN101281168A 申请公布日期 2008.10.08
申请号 CN200810070765.7 申请日期 2008.03.13
申请人 林俊明 发明人 林俊明
分类号 G01N27/82(2006.01) 主分类号 G01N27/82(2006.01)
代理机构 厦门市首创君合专利事务所有限公司 代理人 李雁翔;连耀忠
主权项 1.一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,其特征在于:是将检测线圈的激励绕组和检测绕组分别缠绕在棒式铁磁芯上来作为传感器对被测构件进行检测感应,检测线圈的激励绕组由任意波形发生器所产生的正弦波激励信号、方波激励信号、高占空比的脉冲信号的其中一种信号的单一激励或二种、三种信号的分时激励;其中,所施加的正弦波激励信号,其最大幅值应使铁磁芯线圈的磁化达到不饱和状态,对应于正弦波激励,检测线圈的检测绕组所拾取的信号经放大、相敏检波、滤波处理、A/D转换后由计算机处理系统的涡流信号处理单元进行分析处理,得出被测构件缺陷的涡流检测分析结果;所施加的方波激励信号,其幅值使铁磁芯线圈的磁化达到接近饱和状态,对应于方波激励,检测线圈的检测绕组所拾取的信号经放大、滤波处理、A/D转换后由计算机处理系统的漏磁信号处理单元进行分析处理,得出被测构件缺陷的漏磁检测分析结果;所施加的高占空比的脉冲信号,其幅值使铁磁芯线圈的磁化达到过饱和状态,对应于高占空比的脉冲激励,检测线圈的检测绕组所拾取的信号经放大、滤波处理、A/D转换后由计算机处理系统的磁记忆信号处理单元进行分析处理,得出被测构件缺陷的磁记忆检测分析结果。
地址 361004福建省厦门市湖滨南路57号金源大厦19楼A爱德森(厦门)电子有限公司
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