存储器扫描测试

摘要

本发明提供一种用于测试包含数字部分(310)和模拟部分(320)两者的半导体装置的方法。所述数字部分可包含多个锁存器装置(361到364)，且所述模拟部分可包含多个存储单元(321)和多个选择器装置(325)。所述多个选择器装置的每一者电耦合到所述存储单元的相应一者，至少间接耦合到所述多个锁存器装置中的一者，且由选择器输入(215)控制。负载时钟(372)施加到将图案加载到所述多个锁存器装置中。所述选择器输入经确认以使得所述图案的推导图被所述多个选择器接收，且返回到所述多个锁存器装置。系统时钟(371)施加到所述多个锁存器装置，使所述图案的所述推导图加载到所述多个锁存器装置中。

主权项

1.一种用于测试包含存储单元的半导体装置的方法，所述方法包括：提供具有数字部分和模拟部分的装置；所述数字部分包含多个锁存器装置，且所述模拟部分包含多个存储单元和多个选择器装置；所述选择器装置的每一者电耦合到所述存储单元的相应一者，所述选择器装置的每一者至少间接耦合到所述多个锁存器装置的一者，且所述多个选择器装置的至少一者由选择器输入控制；将负载时钟施加到所述多个锁存器装置，其中将图案加载到所述多个锁存器装置中；驱动所述选择器输入，使得所述图案的推导图由所述多个选择器接收，且所述图案的所述推导图返回到所述多个锁存器装置的至少一子集；以及将系统时钟施加到所述多个锁存器装置，其中将所述图案的所述推导图加载到所述多个锁存器装置中。