发明名称 |
熔点仪及消除熔点仪测量值漂移的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种熔点仪,用低值标准电阻、高值标准电阻分别代替铂电阻R<SUB>t</SUB>处于选定的较低温度和较高温度时的电阻值;单片机输出用于控制低值标准电阻R<SUB>1</SUB>、高值标准电阻R<SUB>2</SUB>、铂电阻R<SUB>t</SUB>接入和断开温度测量电路的控制信号,单片机根据低值标准电阻R<SUB>1</SUB>、高值标准电阻R<SUB>2</SUB>对温度测量电路的校正结果,将已漂移的熔点测量值转换成标准值。本发明同时还公开了一种消除熔点仪测量值漂移的方法。 |
申请公布号 |
CN101281150A |
申请公布日期 |
2008.10.08 |
申请号 |
CN200810024109.3 |
申请日期 |
2008.04.30 |
申请人 |
太仓宏大纺织仪器有限公司 |
发明人 |
王球;邢胜锁;俞峰 |
分类号 |
G01N25/04(2006.01);G01K7/16(2006.01) |
主分类号 |
G01N25/04(2006.01) |
代理机构 |
苏州创元专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
孙仿卫 |
主权项 |
1、一种熔点仪,它包括光源(1)、用于感受所述的光源(1)发射的光束经过被测物的透光量并将其转换成电信号的光敏器件(2);用于加热所述的被测物的加热炉(4),用于感受加热温度并将其转换成电信号的温度测量电路(5),所述的温度测量电路(5)包括一个阻值随温度而变化的铂电阻(Rt);用于处理所述的光敏器件(2)和温度测量电路(5)输出的电信号的单片机(6);其特征在于:所述的温度测量电路(5)包括用于校正温度测量值漂移的低值标准电阻(R1)、高值标准电阻(R2),所述的低值标准电阻(R1)的阻值与一选定的较低温度时所述的铂电阻(Rt)的阻值相等,所述的高值标准电阻(R2)的阻值与一选定的较高温度时所述的铂电阻(Rt)的阻值相等;所述的单片机(6)还输出用于控制所述的低值标准电阻(R1)、高值标准电阻(R2)、铂电阻(Rt)接入和断开所述的温度测量电路(5)的控制信号,所述的单片机(6)根据所述的低值标准电阻(R1)、高值标准电阻(R2)对所述的温度测量电路(5)的校正结果,将已漂移的熔点测量值转换成标准值。 |
地址 |
215400江苏省太仓市弇山西路城厢工业园区136号 |