发明名称 |
晶片分选测试电极装置 |
摘要 |
晶片分选测试电极装置,由偏心轮、步进电机、寻位圆盘、光电传感器、摆动杆、电子数显千分尺、高精度滑块A、高精度滑块B、测试电极、拉簧构成,步进电机驱动偏心轮和寻位圆盘,杠杆结构的摆动杆与偏心轮接触,测试电极固定在高精度滑块A上并沿着轨道滑动,该高精度滑块A通过一连接块固定在另一高精度滑块B上,高精度滑块B设有与滑块B接触的电子数显千分尺;偏心轮在摆动杆后端顺时针转动,摆动杆前端的测试电极就相应的做上下往复运动,其中由步进电机驱动偏心轮转动,拉簧B两端分别固定于滑块B和滑块A的侧面,保持滑块B和电子数显千分尺底端的紧密接触。 |
申请公布号 |
CN201130232Y |
申请公布日期 |
2008.10.08 |
申请号 |
CN200720130898.X |
申请日期 |
2007.12.12 |
申请人 |
南京熊猫仪器仪表有限公司 |
发明人 |
钟丹秋;徐华军;谢金才;孙迎春 |
分类号 |
G01R31/265(2006.01);B07C5/00(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/265(2006.01) |
代理机构 |
南京天翼专利代理有限责任公司 |
代理人 |
汤志武 |
主权项 |
1、晶片分选测试电极装置,其特征是由偏心轮、步进电机、寻位圆盘、光电传感器、摆动杆、电子数显千分尺、高精度滑块A、高精度滑块B、测试电极、拉簧构成,步进电机驱动偏心轮和寻位圆盘,杠杆结构的摆动杆与偏心轮接触,测试电极固定在高精度滑块A上并沿着轨道滑动,该高精度滑块A通过一连接块固定在另一高精度滑块B上,高精度滑块B设有与滑块B接触的电子数显千分尺;偏心轮在摆动杆后端顺时针转动,摆动杆前端的测试电极就相应的做上下往复运动,其中由步进电机驱动偏心轮转动,拉簧B两端分别固定于滑块B和滑块A的侧面,保持滑块B和电子数显千分尺底端的接触。 |
地址 |
210002江苏省南京市中山东路301号 |