发明名称 inspeção de recipiente focalizando diretamente um elemento de matriz de emissão de luz por sobre o recipiente
摘要 INSPEçãO DE RECIPIENTE FOCALIZANDO DIRETAMENTE UM ELEMENTO DE MATRIZ DE EMISSãO DE LUZ POR SOBRE O RECIPIENTE. A presente invenção refere-se a um aparelho para a inspeção ática de recipientes (12) que inclui uma fonte de luz (14) que tem pelo menos um diodo de emissão de luz (16) com uma superfície de matriz de emissão de luz (18). Lentes e/ou espelhos (20, 43) focalizam a superfície de matriz de emissão de luz por sobre uma porção selecionada de um recipiente, e um sensor de luz (24) recebe uma imagem da porção selecionada do recipiente iluminada pela fonte de luz. Um processador de informações (28) está acopIado na fonte de luz para detectar as variações comerciais na porção iluminada do recipiente como uma função da imagem recebida no sensor. A imagem pode ser desenvolvida pela transmissão da energia luminosa através da porção selecionada do recipiente, e/ou pela reflexão e/ou refração da energia luminosa na porção selecionada do recipiente. A fonte de luz pode incluir um único diodo de emissão de luz, ou uma pluralidade de diodos de emissão de luz que tem as superfícies de matriz de emissão de luz focalizadas por sobre o recipiente de tal modo que as imagens das superfícies de matriz de emissão de luz sobreponham e/ou fiquem adjacentes umas às outras no recipiente.
申请公布号 BRPI0517271(A) 申请公布日期 2008.10.07
申请号 BR2005PI17271 申请日期 2005.09.20
申请人 OWENS-BROCKWAY GLASS CONTAINER INC. 发明人 STEPHEN M. GRAFF;JAMES A. RINGLIEN;DEAN F. MARGALSKI
分类号 G01N21/90 主分类号 G01N21/90
代理机构 代理人
主权项
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