发明名称 集成电路处理级中的差错恢复
摘要 一种集成电路包括差错检测电路3230-1至3230-4,这些差错检测电路能够检测到在预定时间窗口内的信号数值中的转变,这些转变指示集成电路在操作中的差错。该集成电路还包括存储单元3296,它能够存储数据处理装置的恢复状态,该恢复状态包括对应于集成电路编程器模式的结构状态变量中的至少一个子集。提供差错恢复电路3250、3260、3210作为集成电路中的一部分,并且用于使集成电路能够使用存储单元3296所存储的恢复状态从检测到的操作差错中恢复。集成电路的操作参数控制器3242根据检测到的操作中的差错的一个或多个特性来调整集成电路的操作参数,例如,时钟频率、工作电压、基底的偏置电压、温度,以采用提高整体性能的方式来保持有限的非零差错比率。
申请公布号 CN101203836A 申请公布日期 2008.06.18
申请号 CN200580050138.1 申请日期 2005.04.21
申请人 ARM有限公司;密执安大学 发明人 D·T·布劳夫;D·M·布尔;S·达斯
分类号 G06F11/14(2006.01) 主分类号 G06F11/14(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 李湘;魏军
主权项 1.一种适用于数据处理装置的集成电路,所述集成电路能够执行数字数据处理且包括:差错检测电路,能够监测在所述集成电路中的数字信号数值并且检测在预定时间窗口中的所述信号数值的转变,所述转变指示所述集成电路的操作中的差错;存储单元,能够存储所述数据处理装置的恢复状态,所述恢复状态包括对应于所述集成电路的编程器模式的结构状态变量中的至少一个子集;差错恢复电路,能够响应所述差错检测电路并能够使得所述集成电路使用所述存储的恢复状态从所述差错中恢复;操作参数控制器,能够控制所述集成电路的一个或者多个性能控制操作参数;其中,所述操作参数控制器根据所述差错检测电路所检测到的一个或多个差错特征来动态控制所述一个或多个性能控制参数中的至少一个,以维持操作中的差错的非零比率,所述差错恢复电路能够使得集成电路从所述操作中的差错中恢复,从而使得所述集成电路的数据处理继续。
地址 英国剑桥郡