发明名称 电容式输入装置的测试系统
摘要 本发明所提供的电容式输入装置的测试系统,用以测试一电容式输入装置,包括有一单芯片、显示模块以及内存,其中单芯片用以接收控制模块输出的一控制信号并响应控制信号以输出一测试信号,而显示模块响应测试信号而显示相应于测试信号的测试信息,该测试信息可记录于内存中。根据本发明所提供的测试装置,可以快速测试待测物,操作简易,并可简化测试设备。
申请公布号 CN101201777A 申请公布日期 2008.06.18
申请号 CN200610167804.6 申请日期 2006.12.14
申请人 英业达股份有限公司 发明人 黄仲文;赵顺贤
分类号 G06F11/22(2006.01);G01R31/327(2006.01) 主分类号 G06F11/22(2006.01)
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人 梁挥;祁建国
主权项 1.一种电容式输入装置的测试系统,用以测试一电容式输入装置,该输入装置至少具有一个以上的电容式开关以及一控制模块,该控制模块接收该电容式开关的一开关信号,其特征在于,该测试装置包括有:一单芯片,用以接收该控制模块输出的一控制信号,并响应该控制信号以输出一测试信号;一显示模块,由该单芯片控制以响应该测试信号而显示相应于该测试信号的一测试信息;以及一内存,由该单芯片控制以储存相应于该测试信号的该测试信息。
地址 中国台湾台北市