光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法

摘要

本发明是为一种缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，得到一第一组缺陷区块；对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块；以及决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。另一方面，本发明是为一种排除缺陷区块写入方法，尤指应用于一光盘写入装置对一光盘片的处理过程。

主权项

1.一种光盘片的缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，其特征在于，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：对该光盘片进行第一阶段缺陷侦测手段，由一光学读取头读取一光盘片上的一区块后将读取的信号传至一前置放大器，接着产生一副光束总合信号，该副光束总合信号的电压值是代表该光学读取头以一激光光束打入该光盘片某一区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器所产生的一副光束总合信号低通信号部份，传至一数字信号处理器进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元，用以标示出何者为缺陷区块，方法即是以副光束总合与该副光束总合信号低通信号部分的差值的绝对值和一预设的门槛值进行比对，若大于该预设的门槛值，则判断该区块为缺陷区块，并且得到第一组缺陷区块；对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中任意取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块，将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的区块，列入该第二组缺陷区块之中；以及决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。