发明名称 碳化硅层的制造方法、氮化镓半导体器件以及硅衬底
摘要 一种在硅衬底的表面上制造碳化硅层的方法,包括以下步骤:用烃基气体和电子束辐照在高真空中在范围为500℃至1050℃的温度下加热的所述硅衬底的表面,以在所述硅衬底表面上形成立方碳化硅层。
申请公布号 CN101203940A 申请公布日期 2008.06.18
申请号 CN200680021424.X 申请日期 2006.05.23
申请人 昭和电工株式会社 发明人 宇田川隆
分类号 H01L21/205(2006.01) 主分类号 H01L21/205(2006.01)
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 杨晓光;李峥
主权项 1.一种在硅衬底的表面上制造碳化硅层的方法,包括以下步骤:用烃基气体和电子束辐照在高真空中在范围为500℃至1050℃的温度下加热的所述硅衬底的表面,以在所述硅衬底表面上形成立方碳化硅层。
地址 日本东京都