发明名称 |
基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置及其测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置及其线宽测量方法,硬件装置上通过在第一、第二耦合器之间连接一光纤延时线、以及在第一、第二耦合器之间连接一声光调制器,被测激光器连接在第一耦合器的输入端上,光电探测器连接在第二耦合器的输出端上,光电探测器与频谱分析仪连接。在线宽测量上利用移频延时自外差法原理建立激光器线宽Δυ与光电流外差信号谱宽Δf的仿真模型,以及利用三阶比例函数模型拟合获得激光器线宽Δυ与光电流外差信号谱宽Δf的函数关系,本发明提出了采用短光纤延时自外差法,可以在延时光纤长度远小于6倍的激光器相干长度时,消除延时自外差法因为延时时间不够导致测量精度的大幅度下降这一缺陷,为工程上实现精确测量窄线宽激光器线宽提供了行之有效的方法。 |
申请公布号 |
CN101201243A |
申请公布日期 |
2008.06.18 |
申请号 |
CN200710178384.6 |
申请日期 |
2007.11.29 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
欧攀;贾豫东;张春熹;冯迪;胡姝玲;曹彬 |
分类号 |
G01B11/02(2006.01) |
主分类号 |
G01B11/02(2006.01) |
代理机构 |
北京永创新实专利事务所 |
代理人 |
周长琪 |
主权项 |
1.一种基于光纤延时自外差法的测量窄线宽激光器线宽装置,其特征在于:被测激光器输出光信号给第一耦合器,第一耦合器将接收的光信号分成A路光、B路光,其中A路光经一段光纤延时线后进入第二耦合器,B路光经声光调制器后进入第二耦合器,A路光、B路光在第二耦合器中合光后输出到光电探测器,光电探测器对接收的光信号经混频后输出光电流外差信号给频谱分析仪。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路37号 |