测试设备

摘要

本发明是有关于一种测试设备是应用于测试一电子装置，电子装置具有一第一本体、一第二本体及一枢轴，第一本体及第二本体与枢轴枢接。测试设备包含一底座、一框架、一施力机构以及一控制装置；底座是承载并固定第一本体，框架是枢设于底座；施力机构是设置于框架，以固定第二本体，并施加一正向力至枢轴；控制装置是与框架电性连接，控制框架转动，带动第二本体以枢轴相对于第一本体转动。本发明能够正确地模拟实际使用状态，了解枢轴因长期受正向力作用而损坏的情形，藉以改良枢轴的结构设计，提高枢轴的可靠度与使用寿命。

主权项

1.一种测试设备，是应用于测试一电子装置，其特征在于该电子装置具有一第一本体、一第二本体及一枢轴，该第一本体及该第二本体与该枢轴枢接，该测试设备包含：一底座，是承载并固定该第一本体；一框架，是枢设于该底座；一施力机构，是设置于该框架，以固定该第二本体，并施加一正向力至该枢轴；以及一控制装置，是与该框架电性连接，控制该框架转动，带动该第二本体以该枢轴相对于该第一本体转动。