一种模拟集成电路参数型故障的定位方法

摘要

本发明公开了一种模拟集成电路参数型故障的定位方法。本发明对被测模拟集成电路响应进行子带滤波后，计算故障子带滤波序列在故障分辨率最高的子带中，与对应无故障子带序列的相干函数序列，对相干函数序列进行相关分析，得到相干函数序列的自相关函数序列，以所述相干函数序列的自相关函数序列的定积分值作为故障的数字特征，实现故障定位。与现有技术相比，本发明能实现模拟集成电路参数型故障定位，满足高故障诊断精度、高故障分辨率和高故障覆盖率，能够实现多参数型故障定位，且通过差异明显的数字化故障特征，易于实现故障诊断自动化。

主权项

1.一种模拟集成电路参数型故障的定位方法，其特征在于：所述模拟集成电路参数型故障的定位方法步骤如下：(1)激励源作用于被测无故障的模拟集成电路，为被测无故障模拟集成电路提供测试激励信号；被测无故障模拟集成电路的响应经模数转换，成为无故障数字信号；对所述无故障数字信号进行子带滤波，得到无故障子带序列；(2)激励源作用于已知故障的模拟集成电路，为已知故障的模拟集成电路提供测试激励信号；已知故障的模拟集成电路的响应经模数转换，成为故障数字信号；对所述故障数字信号进行子带滤波，得到故障子带序列；(3)对步骤(2)中得到的故障子带序列和步骤(1)中得到的无故障子带序列进行相关分析，计算每一个子带中的故障子带序列和无故障子带序列的相关系数，选取相关系数最小的子带进行随后的故障诊断；(4)计算在由步骤(3)确定的相关系数最小的子带中，无故障子带序列与故障子带序列在频域中的相干函数序列；(5)将时域中的相关分析方法引入频域，对步骤(4)中计算出的相干函数序列进行相关分析，得到相干函数序列的自相关函数序列；(6)以步骤(5)中得到的相干函数序列的自相关函数序列的定积分值，作为步骤(2)中的模拟集成电路的已知故障的数字特征；(7)激励源作用于未知故障的被测模拟集成电路，为被测模拟集成电路提供测试激励信号；(8)所述被测模拟集成电路的实测响应经模数转换，成为数字信号；(9)对所述数字信号进行子带滤波，得到子带滤波序列，选取由步骤(3)确定的相关系数最小的子带进行故障诊断计算；(10)在所述进行故障诊断的子带中，计算步骤(9)中得到的子带滤波序列和步骤(1)中得到的对应无故障子带序列的相关系数；(11)在所述进行故障诊断的子带中，计算步骤(9)中得到的子带滤波序列和步骤(1)中得到的对应无故障子带序列在频域中的相干函数序列；(12)将时域中的相关分析方法引入频域，对步骤(11)中计算出的相干函数序列进行相关分析，得到相干函数序列的自相关函数序列；(13)以步骤(12)中得到的相干函数序列的自相关函数序列的定积分值，作为被测模拟集成电路的未知故障的数字特征；(14)将步骤(13)中得到的未知故障的数字特征，与步骤(6)中得到的已知故障的数字特征进行对比，完成故障定位；(15)故障定位时，可以参考步骤(10)中得到的相关系数，以得到准确定位。