发明名称 APARATO DE PRUEBA DE DISPOSITIVOS ELECTRONICOS
摘要 Un aparato de prueba de dispositivos electronicos para transportar dispositivos electronicos a probar en enchufes de una porcion de contacto y llevar los dispositivos electronicos a probar en contacto electrico con los enchufes, para realizar una prueba de caracteristicas eleectricas de los dispositivos electronicos a probar, que comprende una porcion de recoleccion de imagen que toma una imagen de los enchufes; una porcion de memoria que almacena datos de imagen de referencia de los enchufes en un estado de no estar conectado con cualquiera de los dispositivos electronicos a probar obtenidos al tomar imagenes por la porcion de recoleccion de imagen.
申请公布号 CR9760(A) 申请公布日期 2008.06.18
申请号 CR20080009760 申请日期 2008.02.22
申请人 ADVANTEST CORPORATION 发明人 IKEDA, KATSUHIKO;ICHIKAWA, MASAYOSHI
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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