| 发明名称 | 异步芯片同测装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种异步芯片同测装置及方法，在异步电路芯片设计中配置一专用电路，将异步信号存储在异步响应放置区寄存器模块中，专用CPU接受到信号输送出的专用指令后通过输出模块输出同步后的信号。本发明在有限的同测能力条件下提高测试效率，同时降低测试成本。 | ||
| 申请公布号 | CN101201383A | 申请公布日期 | 2008.06.18 |
| 申请号 | CN200610119390.X | 申请日期 | 2006.12.11 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 辛吉升;桑浚之;陈凯华;谢晋春;陈婷 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/303(2006.01);G01R31/319(2006.01);H01L21/66(2006.01);G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 1.一种异步芯片同测装置，其特征在于：包括一专用电路，所述专用电路由一专用CPU、一异步响应放置区寄存器模块和一输出模块组成，所述专用CPU接受来自外部的异步信号，并将所述异步信号传输到所述异步响应放置区寄存器模块，所述输出模块与专用CPU相连或与异步响应放置区寄存器模块相连。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||