发明名称 碟片阵列装置交错分散储存模式可靠性测试方法及系统
摘要 一种碟片阵列装置交错分散储存模式可靠性测试方法及系统,其可应用于对一碟片阵列装置进行一交错分散储存模式下的操作可靠性测试程序;且其特点在于对该碟片阵列装置于交错分散储存模式下来依序进行3项测试程序:一整体存取功能测试程序、一损毁状态存取功能测试程序、和一重建功能测试程序,藉此即可完整地测试出该碟片阵列装置于交错分散储存模式下的操作可靠性。
申请公布号 TW200825890 申请公布日期 2008.06.16
申请号 TW095145854 申请日期 2006.12.08
申请人 英业达股份有限公司 发明人 陈志伟
分类号 G06F3/06(2006.01);G06F12/06(2006.01) 主分类号 G06F3/06(2006.01)
代理机构 代理人 陈昭诚
主权项
地址 台北市士林区后港街66号