发明名称 氧化物图案之形成方法及半导体装置之图案化方法
摘要 氧化物图案之形成方法包括:在一半导体基板上形成一氧化层;在一既定区域中,将不低于1.0x10^16atoms/cm^2的硼离子布植于氧化层;以及对位于无布植该硼离子之剩余区域的该氧化层进行湿式蚀刻。
申请公布号 TW200826197 申请公布日期 2008.06.16
申请号 TW096109118 申请日期 2007.03.16
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 尹孝根;金愚镇;金东柱;朴志熔;郑镛洙
分类号 H01L21/316(2006.01) 主分类号 H01L21/316(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;李国光
主权项
地址 韩国