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经营范围
发明名称
氧化物图案之形成方法及半导体装置之图案化方法
摘要
氧化物图案之形成方法包括:在一半导体基板上形成一氧化层;在一既定区域中,将不低于1.0x10^16atoms/cm^2的硼离子布植于氧化层;以及对位于无布植该硼离子之剩余区域的该氧化层进行湿式蚀刻。
申请公布号
TW200826197
申请公布日期
2008.06.16
申请号
TW096109118
申请日期
2007.03.16
申请人
海力士半导体股份有限公司
发明人
尹孝根;金愚镇;金东柱;朴志熔;郑镛洙
分类号
H01L21/316(2006.01)
主分类号
H01L21/316(2006.01)
代理机构
代理人
何金涂;李国光
主权项
地址
韩国
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