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发明名称
记忆体单元结构及其制造方法、及磁阻性随机存取记忆体结构
摘要
一种记忆体单元结构,包括:一记忆体叠层,具有一下电极及一上电极;一导体延伸层,电性连接下电极,且具有一延伸部,其自记忆体叠层横向延伸,该记忆体叠层形成于导体延伸层之主要部分上;一资料控制线,用以控制该记忆体叠层的记忆状态,其直接形成于记忆体叠层和导体延伸层之主要部分下;一下金属层,形成于延伸部之下,且电性耦接于一开关装置,以读取记忆体叠层的记忆状态;以及一介层插塞结构,直接连接延伸部至下金属层,且直接横向相邻于资料控制线。
申请公布号
TW200826097
申请公布日期
2008.06.16
申请号
TW096127979
申请日期
2007.07.31
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
廖忠志;王郁仁;蔡嘉雄
分类号
G11C11/16(2006.01)
主分类号
G11C11/16(2006.01)
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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