发明名称 METODOS QUE UTILIZAN PUNTAS DE MICROSCOPIO COMO SONDAS DE ESCANEO Y LOS PRODUCTOS PARA ESTO O PRODUCIDOS DE ESE MODO.
摘要 Un método de nanolitografía que comprende: proveer un sustrato; proveer una pluralidad de puntas de microscopio como sondas de escaneo, comprendiendo la pluralidad de las puntas una punta para la formación de imágenes y al menos una punta para escritura; recubrir las puntas con un compuesto para dibujar de acuerdo a un patrón o con una pluralidad de compuestos para dibujar de acuerdo a un patrón; y utilizar las puntas recubiertas para aplicar el(los) compuesto(s) al sustrato para producir una pluralidad de un patrón deseado, cada punta para escritura produciendo el mismo patrón que la punta para la formación de imágenes.
申请公布号 ES2300334(T3) 申请公布日期 2008.06.16
申请号 ES20010939491T 申请日期 2001.05.25
申请人 NORTHWESTERN UNIVERSITY 发明人 MIRKIN, CHAD, A.;PINER, RICHARD;HONG, SEUNGHUN
分类号 A61N5/00;B05D1/00;B05D1/18;B05D1/26;B82B3/00;G01Q70/06;G01Q70/16;G01Q80/00;G03F1/00;G03F7/00;G03F7/16;G03F7/20;G21G5/00;H01L21/027 主分类号 A61N5/00
代理机构 代理人
主权项
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