THIN FILM TRANSISTOR SUBSTATE AND TESTING METHOD OF THE SAME,申请号KR20050004887-传众专利搜索

发明名称	THIN FILM TRANSISTOR SUBSTATE AND TESTING METHOD OF THE SAME
摘要
申请公布号	KR20060084201(A)	申请公布日期	2006.07.24
申请号	KR20050004887	申请日期	2005.01.19
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	KIM, HYUK JIN;PARK, MIN WOOK;KIM, KYUNG WOOK
分类号	G02F1/1345	主分类号	G02F1/1345
代理机构		代理人
主权项
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