发明名称 测量讯号品质的装置与方法
摘要 一种基于viterbi解码器的准位资讯测量在光碟上讯号品质的装置与方法。讯号品质测量装置包括二进制单元,用以从输入射频讯号产生二进制讯号;通道识别器,用以接收输入射频讯号以及从二进制单元输出之二进制讯号,以及输出对应于二进制讯号之参考准位值;以及资讯计算器,用以接收参考准位并且检测讯号品质值。
申请公布号 TWI256580 申请公布日期 2006.06.11
申请号 TW093126953 申请日期 2004.09.07
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 朴贤洙;沈载晟;李载旭;李政炫;柳恩真;赵莺燮
分类号 G06F7/00;G11B15/087 主分类号 G06F7/00
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种讯号品质测量装置,包括: 一二进制单元,用以从输入射频讯号产生二进制讯 号; 一通道识别器,用以接收上述输入射频讯号以及从 该二进制单元输出之二进制讯号,并且对应于上述 二进制讯号而输出参考准位値;以及 一资讯计算器,用以接收上述参考准位値以及检测 一讯号品质値。 2.如申请专利范围第1项所述之讯号品质测量装置, 其中该二进制单元包括一viterbi解码器以及一限幅 器二者之一。 3.如申请专利范围第1项所述之讯号品质测量装置, 其中该通道识别器在一预定时间周期根据上述输 入射频讯号检测上述参考准位値。 4.如申请专利范围第3项所述之讯号品质测量装置, 其中该通道识别器检测每一参考准位値系透过获 得输入射频讯号的平均値与先前参考准位値。 5.如申请专利范围第3项所述之讯号品质测量装置, 其中该通道识别器包括: 一选择讯号产生器,用以从该viterbi解码器的输出 讯号产生选择讯号; 一准位选择器,用以依照上述选择讯号选择从输入 射频讯号被检测的一准位;以及 一平均値过滤器单元,用以根据先前准位値和输入 至该被选择准位之准位讯号以产生用于上述被选 择准位之新准位値。 6.如申请专利范围第5项所述之讯号品质测量装置, 其中该选择讯号产生器以从该viterbi解码器输出之 多路复用延迟讯号产生选择讯号,其中系根据该 viterbi解码器的分接头(taps)数量延迟上述延迟讯号 。 7.如申请专利范围第5项所述之讯号品质测量装置, 其中该平均値过滤器单元系为低通滤波器。 8.如申请专利范围第5项所述之讯号品质测量装置, 其中该平均値过滤器单元检测每一参考准位系根 据方程式: 参考准位値=先前准位値+(延迟输入讯号-先前准位 値)/常数。 9.如申请专利范围第2项所述之讯号品质测量装置, 其中该资讯计算器包括: 至少一平均单元,用以产生参考准位値之平均値, 上述参考准位値系在被接收之参考准位値中具有 相同数位加总値;以及 一讯号品质计算器,用以接收上述参考准位値与上 述参考准位値之平均値,并且产生一讯号品质値。 10.如申请专利范围第9项所述之讯号品质测量装置 ,其中具有一最短周期T之讯号被从二进制讯号移 除,系以具有相同数位加总値的参考准位代表上述 二进制讯号。 11.如申请专利范围第10项所述之讯号品质测量装 置,其中选择具有连续位元之预定数量等于最短周 期T的上述讯号以获得上半参考准位値与下半参考 准位値。 12.如申请专利范围第9项所述之讯号品质测量装置 ,其中该讯号品质计算器计算一不对称値系根据一 方程式: 不对称値={(最高准位+最低准位)/2-(上半准位-下半 准位)/2}/(最高准位-最低准位)。 13.如申请专利范围第9项所述之讯号品质测量装置 ,其中该讯号品质计算器计算一调变比率系根据一 方程式: 调变比率=(上半准位-下半准位)/(最高准位-最低准 位)。 14.如申请专利范围第9项所述之讯号品质测量装置 ,更包括: 一扫描长度补偿器(run length compensator),用以检测与 补偿具有低于最短周期T之周期的讯号,具有低于 最短周期T之周期的该讯号不与一代码条件同时发 生; 其中该扫描长度补偿器系配置于该二进制单元之 后。 15.如申请专利范围第14项所述之讯号品质测量装 置,更包括: 一非线性转换器(nonlinear converter),用以把上述输入 射频讯号转换成非线性响应的讯号; 其中该非线性转换器系配置于该二进制单元之前 。 16.如申请专利范围第15项所述之讯号品质测量装 置,其中该非线性转换器包括: 一非线性函数单元(nonlinear function unit), 其中该非线性函数单元具有一转换函数系根据下 述方程式: y=x*[{a=0}*{|x|<=k}+{a=1}*{|x|>k}]+k*(-1)[{a=0}*{|x|<=0}+{a=1}*{ |x|>0}]*[{a = 0} * {|x|> k} + {a = 1} * { |x |> k}]。 17.一种讯号品质测量方法,包括: 进行一二进制步骤,以从输入射频讯号产生二进制 讯号; 进行一通道识别步骤,以接收上述输入射频讯号以 及二进制讯号,并且对应于上述二进制讯号而输出 参考准位値;以及 进行一资讯计算步骤,以接收上述参考准位値以及 检测一讯号品质値。 18.如申请专利范围第17项所述之讯号品质测量方 法,其中二进制步骤中产生上述二进制讯号系由一 viterbi解码器或一限幅器所完成。 19.如申请专利范围第17项所述之讯号品质测量方 法,其中通道识别步骤包括: 根据在一个预定的时间周期中所输入之上述射频 讯号检测上述参考准位値。 20.如申请专利范围第19项所述之讯号品质测量方 法,其中通道识别步骤包括: 藉由获得上述输入射频讯号之平均値以及一先前 参考准位値检测每一参考准位値。 21.如申请专利范围第19项所述之讯号品质测量方 法,其中通道识别步骤包括: 从该viterbi解码器的输出讯号产生选择讯号; 依照上述选择讯号,以从上述输入射频讯号检测并 选择一准位;以及 进行一平均値过滤步骤,以根据先前准位値与输入 至该被选择准位的准位値以产生该被选择准位之 新准位値。 22.如申请专利范围第21项所述之讯号品质测量方 法,其中产生上述选择讯号之步骤包括: 根据viterbi解码器分接头(viterbi decoder taps)的数量 延迟多路复用延迟讯号。 23.如申请专利范围第21项所述之讯号品质测量方 法,其中系以低通滤波完成上述平均値过滤步骤。 24.如申请专利范围第21项所述之讯号品质测量方 法,其中平均値过滤步骤包括: 根据一方程式检测每一参考准位,该方程式为: 参考准位値=先前准位値+(延迟输入讯号-先前准位 値)/常数。 25.如申请专利范围第18项所述之讯号品质测量方 法,其中该资讯计算步骤包括: 在已接收之参考准位値之中,产生具有一相同的数 位加总値之上述参考准位値之一平均値;以及 进行一讯号品质计算步骤,以接收上述参考准位値 以及该些参考准位之该些平均値,并且产生一讯号 品质値。 26.如申请专利范围第25项所述之讯号品质测量方 法,其中产生该平均値之步骤包括: 从二进制讯号移除具有最短周期T之讯号,上述二 进制讯号系由具有相同数位加总値之参考准位所 代表。 27.如申请专利范围第25项所述之讯号品质测量方 法,其中产生讯号品质値之步骤包括: 计算一不对称値系根据一方程式: 不对称値={(最高准位+最低准位)/2-(上半准位-下半 准位)/2}/(最高准位-最低准位)。 28.如申请专利范围第25项所述之讯号品质测量方 法,其中讯号品质计算步骤包括: 计算一调变比率系根据一方程式: 调变比率=(上半准位-下半准位)/(最高准位-最低准 位)。 29.如申请专利范围第25项所述之讯号品质测量方 法,更包括检测并补偿具有低于最短周期T的周期 之讯号,该讯号不与一代码条件同时发生。 30.如申请专利范围第29项所述之讯号品质测量方 法,更包括把上述输入射频讯号转换成非线性响应 的讯号。 31.如申请专利范围第30项所述之讯号品质测量方 法,其中转换上述输入射频讯号之步骤包括: 完成一非线性函数,其中使用一转换函数完成该非 线性函数系根据一方程式: y=x*[{a=0}*{|x|<=k}+{a=1}*{|x|>k}]+k*(-1)[{a=0}*{|x|<=0}+{a=1}*{ |x|>0}]*[{a = 0} * {|x|> k} + {a = 1} * { |x |> k}]。 32.一种可以根据媒介再生讯号至少一特征値而测 量该讯号品质的方法,包括: 将从该媒介再生之该讯号转换为一数位讯号; 将该数位讯号编码为一二进制形式; 根据该数位讯号和该二进制编码讯号以获得一参 考准位平均値;以及 根据被获得的该参考准位平均値计算从该媒介再 生之讯号的品质; 其中该计算之步骤包括计算至少一不对称値以及 至少一调变比率,以测量从该媒介再生的该讯号之 讯号品质。 图式简单说明: 图1是用以获得不对称値和调变比率之传统讯号品 质测量装置的方块图。 图2是根据本发明的观点所绘示的一种讯号品质测 量装置方块图。 图3是图2通道识别器的方块图。 图4是根据本发明的观点,说明典型的5分接头viterbi 解码器的演算法Trellis图。 图5是根据本发明的观点所绘示之一种资讯计算器 的方块图。 图6是说明当图4的viterbi解码器被使用时,使用根据 本发明观点的资讯计算器之讯号品质测量过程。 图7是说明根据本发明的另一观点之讯号品质测量 装置方块图。 图8是说明根据本发明的另一观点之讯号品质测量 装置方块图。 图9是说明根据本发明的另一观点之讯号品质测量 装置方块图。 图10是说明根据本发明的观点之非线性转换器。
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