| 发明名称 |
A method and an apparatus for measuring positions of contact elements of an electronic component |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK1062106(A1) |
申请公布日期 |
2006.05.12 |
| 申请号 |
HK20040102825 |
申请日期 |
2004.04.22 |
| 申请人 |
ICOS VISION SYSTEMS N.V. |
发明人 |
CARL SMETS;JOHN ZABOLITSKY;KAREL VAN GILS;JURGEN EVERAERTS |
| 分类号 |
G01B11/00;G01B11/03;H05K13/08;(IPC1-7):H05K |
主分类号 |
G01B11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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