发明名称 TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR HANDLER REMOTE CONTROL AND OPERATION METHOD THE SAME
摘要
申请公布号 KR20060035976(A) 申请公布日期 2006.04.27
申请号 KR20040084396 申请日期 2004.10.21
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 CHUNG, AE YONG;LEE, EUN SEOK;BANG, JEONG HO;SHIN, KYEONG SEON;CHI, DAE GAB;KIM, SUNG OK
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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