发明名称 控制热导介面物质键结高度之晶片封装构造及封装方法
摘要 一种控制热导介面物质键结高度之晶片封装构造,其系主要包含有一基板、一加固件(stiffener)、一晶片、一热导介面物质(thermal interface material,TIM)及一散热片,该加固件系设置于该基板上并具有一开口,该开口之一侧壁系形成有一第一旋合部,该晶片系设置于该基板并容置于该加固件之该开口内,该热导介面物质系形成于该晶片之一表面,该散热片系具有一第二旋合部,该散热片系以该第二旋合部旋合于该加固件之该第一旋合部,并使该散热片接触该热导介面物质,以控制该热导介面物质在该晶片与该散热片间之键结高度,且防止该散热片在封装制程中滑动。
申请公布号 TW200618225 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW093135218 申请日期 2004.11.17
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 黄群恩;杨清旭
分类号 H01L23/42 主分类号 H01L23/42
代理机构 代理人
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号