发明名称 奈米压痕硬度修正方法
摘要 本发明系提供一种在偏斜情况下硬度量测之修正方法,其步骤包含:利用一压痕器形成一压痕面积S于一测试材料上,选定该压头之尖端为座标原点;计算出一该压头之边线方程式与对应该压头之一压入深度hc的一第一截面之平面座标;由该第一截面经过偏斜与旋转后形成另一与该作用力方向垂直的一第二截面方程式,以上步骤亦等同于压头偏斜压入之几何关系。同时藉由该第二截面方程式与压头压痕后之边长向量,计算该第二截面之一最大角度θ’,提供一纪录压痕面积S之最大角度θ与该压头之倾斜角度ψ与旋转角度ω之关系的查找表,量测出该压痕面积S之最大角度值θ为该θ’值,以计算出所对应之偏斜角度ψ与一旋转角度ω之值,并据以计算该第二截面之面积值,进而求出其压痕硬度。
申请公布号 TW200619619 申请公布日期 2006.06.16
申请号 TW093138502 申请日期 2004.12.10
申请人 国立台湾科技大学 发明人 林原庆;翁永进
分类号 G01N3/42 主分类号 G01N3/42
代理机构 代理人 蔡清福
主权项
地址 台北市大安区基隆路4段43号