发明名称 具多闸极介电层之半导体装置及其制造方法
摘要 本发明揭示一种具有一双闸极介电层之半导体装置及其制造方法。该半导体装置包括:一矽基板,其被分成一单元区域,其中形成NMOS电晶体,及一周边区域,其中形成NMOS及PMOS电晶体;一在该单元区域中之该矽基板上形成的目标二氧化矽层;一在该周边区域中之该矽基板上形成之氮氧化物层;一在该单元区域中形成之第一闸极结构;一在该周边区域之一NMOS区域中之该氮氧化物层上形成的第二闸极结构;及一在该周边区域之一PMOS区域中之该氮氧化物层上形成的第三闸极结构。
申请公布号 TW200623209 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW094118197 申请日期 2005.06.02
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 赵兴在;林宽容;李昇龙
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国