| 主权项 |
1.一种电性测试装置,适于测试至少一晶片封装体, 该电性测试装置包括: 一测试板,具有多数个第一接点、多数个第二接点 和多数个第三接点,各该第一接点电性连接该些第 二接点之一与该些第三接点之一,且该些第一接点 之一用以电性连接该晶片封装体之一电源端,而该 些第一接点之另一用以电性连接该晶片封装体之 一接地端; 一电源输入单元,配置于该测试板上且用以输入一 测试讯号; 一接地参考单元,配置于该测试板上; 多数个第一切换元件,各该第一切换元件的一端电 性连接该些第二接点之一,且各该第一切换元件的 另一端电性连接该电源输入单元;以及 多数个第二切换元件,各该第二切换元件的一端电 性连接该些第三接点之一,且各该第二切换元件的 另一端电性连接该接地参考单元。 2.如申请专利范围第1项所述之电性测试装置,更包 括一绝缘本体以及一转接板,该转接板配置于该测 试板上,并电性连接该些第一接点,而该绝缘本体 配置于该转接板上,用以放置该晶片封装体。 3.如申请专利范围第1项所述之电性测试装置,其中 该些第一切换元件为跳线器。 4.如申请专利范围第1项所述之电性测试装置,其中 该些第二切换元件为跳线器。 5.如申请专利范围第1项所述之电性测试装置,其中 该些第一切换元件为DIP开关。 6.如申请专利范围第1项所述之电性测试装置,其中 该些第二切换元件为DIP开关。 7.一种电性测试装置,适于测试至少一晶片封装体, 该电性测试装置包括: 一测试板,包括: 一电源输入区,其适于承接一外部电源供应装置; 一线路切换区,连接该电源输入区,其适于承接一 线路切换器;以及 一电源输出区,连接该线路切换区,其适于与该晶 片封装体之电源接点连接。 8.如申请专利范围第7项所述之电性测试装置,其中 该线路切换器为跳线器。 9.如申请专利范围第7项所述之电性测试装置,其中 该线路切换器为DIP开关。 10.如申请专利范围第7项所述之电性测试装置,更 包括一绝缘本体以及一转接板,该转接板配置于该 电源输出区上,并电性连接该晶片封装体与该电源 输出区之间,而该绝缘本体配置于该转接板上,用 以放置该晶片封装体。 图式简单说明: 图1绘示习知之一种电性测试装置的布线示意图。 图2绘示本发明一实施例之一种电性测试装置的布 线示意图。 图3绘示图2之电性测试装置的另一布线示意图。 图4A绘示本发明一实施例之绝缘本体与转接板的 俯视示意图。 图4B绘示图4A之转接板的仰视示意图。 |
