发明名称 Method and apparatus for characterizing properties of electronic devices depending on device parameters
摘要 Methods and apparatuses are disclosed for obtaining information about an electronic device, wherein a criterion or function for a property of said electronic device depending on at least one device parameter is used.
申请公布号 US2008168297(A1) 申请公布日期 2008.07.10
申请号 US20070650649 申请日期 2007.01.08
申请人 HAUSSLER ROBERT;KINZELBACH HARALD;LANG ALFRED 发明人 HAUSSLER ROBERT;KINZELBACH HARALD;LANG ALFRED
分类号 G06F1/00 主分类号 G06F1/00
代理机构 代理人
主权项
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