发明名称 Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes mit Isolationsgraben und Kontaktgraben
摘要 Es wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem parallel zueinander ein erster mit einem dielektrischen Material gefüllter isolierender Graben und ein zweiter, mit einem elektrisch leitfähigen Material gefüllter leitender Graben erzeugt werden kann. Dazu werden erster und zweiter Graben mit unterschiedlicher Grabenbreite geätzt, so dass der erste Graben nach ganzflächig kantenbedeckendem Abscheiden einer dielektrischen Schicht vollständig mit dem dielektrischen Material gefüllt wird, während der breitere zweite Graben nur an den Innenwänden von der dielektrischen Schicht bedeckt ist. Durch anisotropes Rückätzen der dielektrischen Schicht wird am Boden des zweiten Grabens das Halbleitersubstrat freigelegt. Anschließend wird der zweite Graben mit einem elektrisch leitfähigen Material befüllt und stellt dann eine niederohmige Verbindung von der Substratoberfläche hin zu der unterhalb des zweit
申请公布号 DE102006054334(B3) 申请公布日期 2008.07.10
申请号 DE200610054334 申请日期 2006.11.17
申请人 AUSTRIAMICROSYSTEMS AG 发明人 ENICHLMAIR, HUBERT;SCHREMS, MARTIN;SCHRANK, FRANZ
分类号 H01L21/76;H01L21/74 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人
主权项
地址