发明名称 |
样品后置型双焦面探测的激光粒度仪 |
摘要 |
一种样品后置型双焦面探测的激光粒度仪。该激光粒度仪包括依次位于光轴上的激光发射器及空间滤波器、第一透镜、样品(池)、位于第一透镜后的等效焦平面上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜的组合等效焦平面上的第二多元光电探测器。本实用新型提供的激光粒度仪不需改变焦距或等效焦距,一次就能完成整个量程范围内的粒度测量,扩大了动态范围;将大尺寸探测器化为小尺寸探测器,使加工更加容易;多元光电探测器可整体制作,光电特性一致性好,所以对于信号采集有利;容易获得无探测盲区的信号。 |
申请公布号 |
CN201083671Y |
申请公布日期 |
2008.07.09 |
申请号 |
CN200720099723.7 |
申请日期 |
2007.09.28 |
申请人 |
天津大学 |
发明人 |
葛宝臻;魏永杰;魏耀林 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01);G01N21/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01) |
代理机构 |
天津佳盟知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李益书 |
主权项 |
1.一种样品后置型双焦面探测的激光粒度仪,其特征是该激光粒度仪,包括依次位于光轴上的激光发射器及空间滤波器、第一透镜、样品或样品池、位于第一透镜后的等效焦平面上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜的组合等效焦平面上的第二多元光电探测器。 |
地址 |
300072天津市南开区卫津路92号天津大学精仪学院 |