发明名称 半导体基板加工用粘合片
摘要 本发明的目的在于,提供一种稳定的粘合片,该粘合片不论半导体装置等的树脂组成如何、添加剂的种类、脱模剂的种类及其量如何,照射紫外线和/或放射线后,都会显示稳定的粘合力降低,另外,几乎可以完全防止在树脂表面残留粘糊。本发明的半导体基板加工用粘合片包括:对紫外线和/或放射线具有透过性的基材、和通过紫外线和/或放射线进行聚合固化反应的胶粘剂层,其中,上述胶粘剂层是使用具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体而形成的,并且上述具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合成在总平均分子量225~8000下含有一个双键,所述总平均分子量由上述多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合物的重均分子量求出。
申请公布号 CN101215448A 申请公布日期 2008.07.09
申请号 CN200810002428.4 申请日期 2008.01.07
申请人 日东电工株式会社 发明人 山本晃好;新谷寿朗;浅井文辉;桥本浩一
分类号 C09J7/02(2006.01);C09J4/00(2006.01) 主分类号 C09J7/02(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 宋莉
主权项 1.一种半导体基板加工用粘合片,包括:对紫外线和/或放射线具有透过性的基材、和通过紫外线和/或放射线进行聚合固化反应的胶粘剂层,其中,上述胶粘剂层是使用具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体而形成的,并且上述具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合成在总平均分子量225~8000下含有一个双键,所述总平均分子量由上述多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合物的重均分子量求出。
地址 日本大阪府