发明名称 |
半导体元件、其制造方法、在其内形成间隙以及填充导孔的方法 |
摘要 |
本发明系提供一种半导体元件的制造方法,包括形成导孔在半导体基底内,以可抛弃式材料例如非结晶的碳填充导孔,形成介电层在基底上覆盖导孔,进行背面蚀刻以暴露出导孔内的可抛弃式材料。沈积背面介电层覆盖暴露的导孔,然后形成小开口,并除去可抛弃式材料,例如藉由等向性蚀刻制程达成。可使用金属填充导孔并作为导体,或是以介电材料填充,此外,也可以不填充导孔作为空气间隙。 |
申请公布号 |
TW200845289 |
申请公布日期 |
2008.11.16 |
申请号 |
TW096130708 |
申请日期 |
2007.08.20 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
余振华;邱文智;吴文进 |
分类号 |
H01L21/76(2006.01);H01L21/768(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/76(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
洪澄文;颜锦顺 |
主权项 |
|
地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |