发明名称 Electron microscopy system and electron microscopy method
摘要
申请公布号 EP1389795(B1) 申请公布日期 2008.12.17
申请号 EP20030018125 申请日期 2003.08.08
申请人 CARL ZEISS NTS GMBH 发明人 KNIPPELMEYER, RAINER
分类号 H01J37/26;H01J37/29;H01J37/05;H01J37/147;H01J37/244;H01J37/28 主分类号 H01J37/26
代理机构 代理人
主权项
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