测试转接卡及其测试设备

摘要

本发明涉及一种测试转接卡及具有该测试转接卡的测试设备，该测试转接卡包含：一连接器转换座，具有多个接脚，用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及多个测试连接器，具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，其中所述测试连接器与一测试机台电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。在结合制造缺陷分析设备或内线路测试机后可加快找出具有高脚位数的集成电路连接器的电子设备的半成品的不良原因。本发明能有效且快速地协助维修人员找到不良的原因，不仅可以提高维修的效率，且降低生产成本，还可以实时调整生产线的工艺参数与作业标准，使生产线的良率有效提升。

主权项

1.一种测试转接卡，其中包含：一连接器转换座，具有多个接脚，用来与一待测电路板上的一待测连接器耦合；以及多个测试连接器，具有多个脚位，且所述脚位分别与该连接器转换座的所述接脚电性连接，其中所述测试连接器与一测试机台电性连接，以通过该连接器转换座与该待测连接器测试该待测电路板的不良位置。