发明名称 利用特征指纹图谱识别样品的方法
摘要 本发明公开了一种利用特征指纹图谱识别样品的方法,该方法包括以下步骤:A.根据不同物质不同的频率吸收特性,采用特征频段对标准样品进行测定,建立标准样品特征指纹图谱数据库;B.对待验样品进行取样处理,获得试样,采用特征频段对试样进行测定,获得试样的特征指纹图谱;C.从标准样品特征指纹图谱数据库中提取与试样同类的标准样品特征指纹图谱;D.对试样和标准样品的特征指纹图谱进行一阶、二阶求导计算,获得相应的一阶导数特征指纹图谱和二阶导数特征指纹图谱;E.试样与标准样品进行分级比对识别,并输出识别结果。本发明利用特征指纹图谱识别样品的方法,能够使试样识别具有重现性,同时,提高了识别的质量。
申请公布号 CN101324544A 申请公布日期 2008.12.17
申请号 CN200710118922.2 申请日期 2007.06.15
申请人 徐向阳 发明人 徐向阳
分类号 G01N30/00(2006.01);G01N21/31(2006.01) 主分类号 G01N30/00(2006.01)
代理机构 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人 张立成
主权项 1、一种利用特征指纹图谱识别样品的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:A,根据不同物质不同的频率吸收特性,采用特征频段对标准样品进行测定,获得标准样品的特征指纹图谱,建立标准样品特征指纹图谱数据库;B,对待验样品进行取样处理,获得试样,利用试样的频率吸收特性,采用特征频段对试样进行测定,获得试样的特征指纹图谱;C,从标准样品特征指纹图谱数据库中提取与试样同类的标准样品特征指纹图谱;D,对试样和标准样品的特征指纹图谱进行一阶、二阶求导计算,获得相应的一阶导数特征指纹图谱和二阶导数特征指纹图谱;E,试样利用上述所得到的特征指纹图谱、一阶导数特征指纹图谱及二阶导数特征指纹图谱与标准样品进行分级比对识别,并输出识别结果。
地址 100080北京市中关村东路18号财智国际大厦B座803