发明名称 |
一种纳米尺寸三角形空气槽的制作方法 |
摘要 |
本发明涉及微纳米加工技术领域,公开了一种纳米尺寸三角形空气槽的制作方法,该方法包括:A.在顶层材料为硅的衬底上采用纳米尺寸光刻技术,将曝光图形转移到光刻胶掩膜上,控制图形最小线条尺寸在纳米量级;B.以光刻胶为掩模,采用电感耦合等离子体ICP干法刻蚀技术对所述衬底的顶层硅材料进行刻蚀,形成纵向空气槽;C.在形成纵向空气槽的顶层硅表面,热氧化形成一层厚度为7至15纳米的氧化层;D.利用化学气相沉积技术,采用液态绝缘材料源对刻蚀形成的槽进行氧化硅填充。利用本发明,制作出了纳米尺寸的三角形空气槽。 |
申请公布号 |
CN101325171A |
申请公布日期 |
2008.12.17 |
申请号 |
CN200710118868.1 |
申请日期 |
2007.06.13 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
屠晓光;陈少武 |
分类号 |
H01L21/762(2006.01);B82B3/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/762(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1、一种纳米尺寸三角形空气槽的制作方法,其特征在于,该方法包括:A、在顶层材料为硅的衬底上采用纳米尺寸光刻技术,将曝光图形转移到光刻胶掩膜上,控制图形最小线条尺寸在纳米量级;B、以光刻胶为掩模,采用电感耦合等离子体ICP干法刻蚀技术对所述衬底的顶层硅材料进行刻蚀,形成纵向空气槽;C、在形成纵向空气槽的顶层硅表面,热氧化形成一层厚度为7至15纳米的氧化层;D、利用化学气相沉积技术,采用液态绝缘材料源对刻蚀形成的槽进行氧化硅填充。 |
地址 |
100083北京市海淀区清华东路甲35号 |