发明名称 测量装置
摘要 一种测量装置,包括一发光元件、一设置有基材的透镜组件及一检测元件,通过该发光元件产生光源投射至该透镜组件,并通过该检测元件接收、检测经由该透镜组件入射的光线,以计算具有阻挡材料的基材的透光率,进而得知该基材的阻挡率,另外,该基材可通过一受力件提供一应力,使其可于不同曲率形变下测量其透气率。
申请公布号 CN101324524A 申请公布日期 2008.12.17
申请号 CN200710108988.3 申请日期 2007.06.11
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 张志祥;潘信宏;李君浩;萧智鸿
分类号 G01N21/59(2006.01) 主分类号 G01N21/59(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 程伟
主权项 1.一种测量装置,用以测量基材的透气率,该测量装置至少包括:发光元件,用以产生光源;检测元件,用以接收光线,并从而取得该光线的透光变化量;透镜组件,配置于该发光元件与该检测件的光路间,用以接收该光源及投射光线至该检测元件,且具有一个以上用以调整焦距的透镜;以及载件,配置于该透镜组件的透镜之间,用以设置该基材,并使光线可穿透该基材。
地址 中国台湾新竹县