发明名称 具有缩减长度之汲极和源极区及与其毗邻之受力介电材料的SOI电晶体
摘要 藉由再组构形成于SOI电晶体之汲极和源极中之凹处中之材料,在形成个别金属矽化物区之前,该凹处之深度可向下增加至埋置绝缘层,由此当对应之电晶体元件被高度受力之介电材料所覆盖时,可减少串联电阻并增强应力转移。可根据高温氢气烘烤而完成此材料之重新分布(material redistribution)。
申请公布号 TW200849592 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW097111226 申请日期 2008.03.28
申请人 高级微装置公司 发明人 韦 安迪;坎姆勒 索斯顿;布其克 罗曼;史考特 卡西
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 美国