发明名称 免疫色谱试片之测定装置
摘要 本发明的测定装置1a,具备:对免疫色谱试片41照射测定光的发光元件21、31;根据对于免疫色谱试片41上的第1位置(带状区域41c)的测定光照射来检测从免疫色谱试片41之反射光的光检测元件22;根据对于较第1位置下游侧的第2位置(带状区域41d)的测定光照射来检测从免疫色谱试片41之反射光的光检测元件32;及根据来自光检测元件22、32的输出讯号,取得第1位置(带状区域41c)吸光度的变化后到第2位置(带状区域41d)吸光度的变化为止的时间的控制部13。
申请公布号 TW200848714 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW096150871 申请日期 2007.12.28
申请人 滨松赫德尼古斯股份有限公司 发明人 山内一德
分类号 G01N21/78(2006.01);G01N21/64(2006.01) 主分类号 G01N21/78(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本