发明名称 X光检查方法及X光检查装置
摘要 〔课题〕提供一种可选择性地对检查对象物之规定检查区域进行高速检查的X光检查装置。〔解决手段〕X光检查装置100系具备:输出X光之扫描型X光源10、装设有复数个X光感测器23且以旋转轴21为中心进行旋转的感测器基座22、及用以控制感测器基座22之旋转角及取得来自X光感测器23的影像资料之影像取得控制机构30等。扫描型X光源10针对各X光感测器23,系以使X光源之X光焦点位置移动至设定成X光会穿透检查对象20之规定检查区域并射入各X光感测器23的该X光的各个放射起点位置,以放射X光。影像取得控制机构30系取得X光感测器23所检测到之影像资料,运算部70系根据此影像资料,再重组检查区域之影像。
申请公布号 TW200848723 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW097108599 申请日期 2008.03.12
申请人 欧姆龙股份有限公司 发明人 益田真之;松波刚;小泉治幸;加藤训之
分类号 G01N23/04(2006.01) 主分类号 G01N23/04(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;丁国隆
主权项
地址 日本
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