发明名称 贴合有III-V族氮化物半导体层之基板及半导体装置
摘要 本发明提供一种可制造高特性半导体装置的贴合有III-V族氮化物半导体层之基板、以及包含贴合有III-V族氮化物半导体层之基板之半导体装置。本发明之贴合有III-V族氮化物半导体层之基板,其特征在于,其系由III-V族氮化物半导体层与底层基板贴合而成,III-V族氮化物半导体层之热膨胀系数与底层基板之热膨胀系数之差为4.5×10#sP!-6#eP! K#sP!-1#eP!以下,底层基板之导热率为50W.m#sP!-1#eP!.K#sP!-1#eP!以上。
申请公布号 TW200849678 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW097119435 申请日期 2008.05.26
申请人 住友电气工业股份有限公司 发明人 八乡昭广
分类号 H01L33/00(2006.01);H01L25/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本