发明名称 |
贴合有III-V族氮化物半导体层之基板及半导体装置 |
摘要 |
本发明提供一种可制造高特性半导体装置的贴合有III-V族氮化物半导体层之基板、以及包含贴合有III-V族氮化物半导体层之基板之半导体装置。本发明之贴合有III-V族氮化物半导体层之基板,其特征在于,其系由III-V族氮化物半导体层与底层基板贴合而成,III-V族氮化物半导体层之热膨胀系数与底层基板之热膨胀系数之差为4.5×10#sP!-6#eP! K#sP!-1#eP!以下,底层基板之导热率为50W.m#sP!-1#eP!.K#sP!-1#eP!以上。 |
申请公布号 |
TW200849678 |
申请公布日期 |
2008.12.16 |
申请号 |
TW097119435 |
申请日期 |
2008.05.26 |
申请人 |
住友电气工业股份有限公司 |
发明人 |
八乡昭广 |
分类号 |
H01L33/00(2006.01);H01L25/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L33/00(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
日本 |