发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明揭示一种半导体装置,其包括:元件隔离区域,其系在被埋入一半导体基板中之一状态下形成,使得该半导体基板之一元件形成区域插置在该等元件隔离区域之间;一闸电极,其形成于该元件形成区域之上,其中一闸极绝缘膜插置于该闸电极与该元件形成区域之间,该闸电极经形成以越过该元件形成区域;及源极-汲极区域,其形成于该闸电极两侧上之该元件形成区域中,其中形成一由该闸电极下方之该元件形成区域制成之通道区域,以便自该等元件隔离区域突出,且该等源极-汲极区域系形成至一比该等元件隔离区域之表面更深的位置。
申请公布号 TW200849595 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW097113656 申请日期 2008.04.15
申请人 新力股份有限公司 发明人 馆下八州志
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本