发明名称 内存电性测试器
摘要 一种内存电性测试器,用以电性连接内存多测试接脚的任意二者,并供同时短路二个该测试接脚,该电性测试器包括二个电性接头、以及分别电性连接各该电性接头的电路开关,该电路开关并供切换短路与断路的其中一者,由此同时短路任二个接脚以降低单位信号所造成的干扰,进而提高多位元信号电性测试的准确性。
申请公布号 CN201163539Y 申请公布日期 2008.12.10
申请号 CN200720174917.9 申请日期 2007.09.05
申请人 英业达股份有限公司 发明人 章熙朗;陈志丰
分类号 G11C29/00(2006.01) 主分类号 G11C29/00(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 程伟
主权项 1.一种内存电性测试器,用于测试内存的多测试接脚的任意二者,其特征在于该电性测试器包括:二个电性接头,分别用以电性连接其中一个测试接脚;以及电路开关,分别电性连接各该电性接头的一端,以切换短路与断路的其中一者。
地址 中国台湾台北市