发明名称 | 内存电性测试器 | ||
摘要 | 一种内存电性测试器,用以电性连接内存多测试接脚的任意二者,并供同时短路二个该测试接脚,该电性测试器包括二个电性接头、以及分别电性连接各该电性接头的电路开关,该电路开关并供切换短路与断路的其中一者,由此同时短路任二个接脚以降低单位信号所造成的干扰,进而提高多位元信号电性测试的准确性。 | ||
申请公布号 | CN201163539Y | 申请公布日期 | 2008.12.10 |
申请号 | CN200720174917.9 | 申请日期 | 2007.09.05 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 章熙朗;陈志丰 |
分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 程伟 |
主权项 | 1.一种内存电性测试器,用于测试内存的多测试接脚的任意二者,其特征在于该电性测试器包括:二个电性接头,分别用以电性连接其中一个测试接脚;以及电路开关,分别电性连接各该电性接头的一端,以切换短路与断路的其中一者。 | ||
地址 | 中国台湾台北市 |