一种转接测试座

摘要

本发明公开了一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与金属弹片电连接，所述的卡插槽内含有旋转的D型轴，转动所述的D型轴，就可以使所述金属片向内联动，直至与被测试电路板插件的金手指可靠的电连接，此新型技术采用的是无磨擦点接触测试，不对内存条金手指产生任何磨擦，有效的保护了金手指外观的品质，直接有效的降低了内存条记忆体保护转接测试成本。

主权项

1.一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与对应的金属弹片电连接，其特征在于，所述的卡插槽内含有可旋转的D型轴。