发明名称 Test method of phase change random access memory and phase change random access memory
摘要
申请公布号 KR100872880(B1) 申请公布日期 2008.12.10
申请号 KR20060087632 申请日期 2006.09.11
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C13/02 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
地址