| 发明名称 | 用于磁定位设备的测量值的校正 | ||
| 摘要 | 本发明涉及对借助于磁定位设备测量的场传感器(4)的位置(x)进行校正的设备和方法。例如由计算机断层摄影装置(1)的旋转部件(1a，1b)导致的外部场失真然后在放置于已知位置的基准传感器(3)的帮助下被确定。有可能从基准传感器(3)的测量信号例如推断计算机断层摄影装置(1)的当前旋转角(φ)。基于经验确定关系(δ(x，φ))，场传感器(4)的未校正确定位置(x)然后可以关于场失真转换为被校正位置(x′)。场发生器(2)和基准传感器(3)优选地被固定到台架以便消除场失真对台架的倾斜的依赖性。 | ||
| 申请公布号 | CN100441143C | 申请公布日期 | 2008.12.10 |
| 申请号 | CN200580005138.X | 申请日期 | 2005.02.11 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | S·克吕格尔;H·－A·维施曼;H·蒂明格尔;J·萨布琴斯基;J·博尔格特 |
| 分类号 | A61B5/06(2006.01) | 主分类号 | A61B5/06(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 顾珊;张志醒 |
| 主权项 | 1.一种磁定位设备，包括：a)用于生成磁场的场发生器(2)；b)用于测量所述磁场的场传感器(4)；c)用于测量已知参考位置处的所述磁场的基准传感器(3)；d)控制单元(5)，其被布置成用于确定场传感器(4)相对于场发生器(2)的位置(x′)，由此通过考虑基准传感器(3)补偿外部场失真，其中该场发生器(2)和基准传感器(3)被固定到计算机断层摄影装置的台架(1)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||