Method of Parallel Bit Test and semiconductor memory device using the method,申请号KR20060100383-传众专利搜索

发明名称	Method of Parallel Bit Test and semiconductor memory device using the method
摘要
申请公布号	KR100871691(B1)	申请公布日期	2008.12.05
申请号	KR20060100383	申请日期	2006.10.16
申请人		发明人
分类号	G11C29/00;G11C7/10	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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