发明名称 Durch Fullerene vermittelter Speicher mit diskreten Haftstellen (Discrete Trap Memory - DTM)
摘要 Ein Speicher mit diskreten Haftstellen umfasst eine Siliziumsubstratschicht, eine untere Dielektrikumsschicht auf der Siliziumsubstratschicht, eine Fulleren-Schicht auf der unteren Oxidschicht, eine obere Oxidschicht auf der Fulleren-Schicht und eine Gateschicht auf der oberen Oxidschicht; wobei die Fulleren-Schicht kugelförmige, elliptische oder endohedrale Fullerene umfasst, die als Ladungshaftstellen wirken.
申请公布号 DE102008001263(A1) 申请公布日期 2008.12.04
申请号 DE20081001263 申请日期 2008.04.18
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 POEPPEL, GERHARD;TEMPEL, GEORG
分类号 G11C13/02 主分类号 G11C13/02
代理机构 代理人
主权项
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