发明名称 |
Höheres Transistorleistungsvermögen von N-Kanaltransistoren durch Verwenden einer zusätzlichen Schicht über einer Doppelverspannungsschicht in einem Halbleiterbauelement |
摘要 |
Durch Bilden eines zusätzlichen dielektrischen Materials, etwa eines Siliziumnitridmaterials, nach dem Strukturieren von dielektrischen Beschichtungen mit unterschiedlicher innerer Verspannung wird eine deutliche Steigerung des Leistungsverhaltens von n-Kanaltransistoren erreicht, während im Wesentlichen nicht zu einem Leistungsverlust des p-Kanaltransistors beitragen wird.
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申请公布号 |
DE102007025342(A1) |
申请公布日期 |
2008.12.04 |
申请号 |
DE200710025342 |
申请日期 |
2007.05.31 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC. |
发明人 |
RICHTER, RALF;WEI, ANDY;BOSCHKE, ROMAN |
分类号 |
H01L21/8238;H01L27/092 |
主分类号 |
H01L21/8238 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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